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白光干涉儀/色散測量儀
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Ultrafast Innovations - RSI-GDD測量儀
由于制造誤差的不可避免，色散補償反射鏡的GD和GDD會與理論設計有偏離，GD和GDD對鍍膜的厚度非常敏感，所以即使用最先進的亞納米層沉積技術，誤差也是不可能被完全消除的，所以對GD和GDD的準確測量于基于色散補償反射鏡的超快光學系統獲得的優異性能起著至關重要的作用。另外，對色散補償反射鏡的GD和GDD的準確測量可逆向對生產過程進行反饋，以進一步提高生產的準確性。
技術特點： | 技術參數： |
◇ 靈活測量高反鏡和色散補償反射鏡的GD和GDD | ◇ 光譜寬度：250-1100nm或900-2100nm |
◇ 可測量近紅外、可見光和UV波段 | ◇ 光學分辨率：~1nm (250 – 1100nm)/2nm(900-2100nm) |
◇ 強大的數據處理軟件 | ◇ GDD絕對精度：10fs2 |
◇ 測量結果與理論計算高度吻合 | ◇ GDD相對精度：5fs2 |
◇ 快速簡單的工作過程 | ◇ 尺寸：60×60 cm2 |
經典案例：
| GD (a)和GDD (b)是實際測量UV光束 在鏡面的反射率(綠色曲線) 和相應的理論預測(紅線)的對比 |
| 超寬帶的96層膜色散補償 反射鏡的GD (c)和GDD (d)的 實際測量(綠色)和理論數據(紅色)的對比 |
