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      光束質量分析儀(DataRay)

      激光光束質量分析儀,可對激光光束的光斑大小,形狀和能量分布等參數進行全面的測試和分析,同時連接電腦軟件可顯示二維或三維的測試結果。DataRay生產兩個系列的光束質量分析儀:相機式光束質量分析儀(CCD式)和狹縫掃描式光束質量分析儀 ,全系列產品的波長測試范圍覆蓋了從190nm到16μm,適合眾多激光光束。
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      DataRay - 光束質量分析儀

      DataRay公司成立于1988年,專業生產領先的激光光束質量分析儀,可對激光光束的光斑大小,形狀和能量分布等參數進行全面的測試和分析,同時連接電腦軟件可顯示二維或三維的測試結果。DataRay生產兩個系列的光束質量分析儀:相機式光束質量分析儀(CCD式)和狹縫掃描式光束質量分析儀 ,全系列產品的波長測試范圍覆蓋了從190nm到16μm,適合眾多激光光束。


      產品系列


      1. 相機式光束質量分析儀

      基于相機的光束分析系統使用超廣泛,它雖無法獲得超高分辨率,但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用是很好的選擇。此外,Dataray光束質量分析儀通用的C/F-Mount接口設計,使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。


      各種型號的相機通過選配轉接頭可以用于特定的波長范圍,詳見下表:


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      詳細參數:

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      2. 狹縫掃描式光束質量分析儀

      掃描狹縫輪廓分析系統提供高分辨率,但是要求光束小于1μm且價格要高于相機型光束分析儀。盡管不能給出光束圖像,但是在很多情況下XY或XYZ輪廓就可以滿足應用要求。

      DataRay生產兩種類型的掃描狹縫光束輪廓儀:

      1. Beam R系列,可提供精確的光束輪廓。掃描狹縫光束輪廓儀有Si, Ge和InGaAs三種探測器,測量范圍可覆蓋波長從190nm到2500nm;

      2. 專利BeamMap系列,BeamMap代表了一種完全不同的實時光束分析方法。 它通過允許沿光束行程的多個位置進行測量,擴展了Beam'R2的測量功能。 這種實時狹縫掃描系統在旋轉圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對,以同時測量四個不同z位置處的四個光束輪廓。 BeamMap2獨特的專利設計最適用于焦點位置,M2,光束發散和指向的實時測量。


      詳細參數:

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